National Instruments et Styrel Technologies invitent les membres du CEA de Saclay à participer aux 2e Rencontres des utilisateurs National Instruments du CEA, le 2 mars 2017 de 9h à 12h30. Au programme : pérennité des développements logiciel et gestion d'obsolescence.
Cette demi-journée, dédiée à la pérennité de vos développements logiciel et à la gestion d’obsolescence de vos matériels de test et mesure, sera l’occasion de partager vos expériences issues de vos projets avec des experts des environnements NI, dont LabVIEW !
Vous découvrirez également en avant-première les prochaines évolutions de l'environnement LabVIEW.
Date : Jeudi 2 mars 2017 de 9h à 12h30
Lieu : Grande Salle du Bâtiment 522 – CEA Saclay
| Horaire | Présentation |
|---|---|
| 9h - 9h10 | Introduction |
| 9h10 - 9h40 | Présentation du futur de LabVIEW : « le projet secret de NI » |
| 9h40 - 10h20 | Gagnez du temps en développant du code pérenne grâce à NI LabVIEW |
| 10h20 - 10h40 | Pause - Discussions ouvertes |
| 10h40 - 11h20 | Les systèmes embarqués chez NI ( NI Linux Real-Time, FPGA) |
| 11h20 - 12h00 | Retours d'expérience et exemples de gestion d'obsolescence matériel-logiciel : comment retrofiter des bancs d'essais en utilisant la plate-forme NI ? |
| 12h00 - 12h30 | Découvrez comment pérenniser vos électroniques « maison » grâce à la nouvelle plate-forme ouverte NI SLSC |
Le nombre de places étant limité, merci de confirmer votre venue en cliquant sur ce lien.
Venez nombreux !
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